İçeriğe geç
OKÜ
OKÜ ABYSAkademik Bilgi Yönetim Sistemi

Yayın Detayı

YÖKSİS yayın kimliği9514954
Yayına eriş
2025 Özgün Makale Uluslararası

Temperature-dependent electrical characteristics analysis of the Al/p-type Si structures with GO and PTCDA interlayer: structural properties

BERK NİYAZİ,SEYMEN HALİL,ÖZERLİ HALİL,KARATAŞ ŞÜKRÜ

Journal of Materials Science: Materials in Electronics
Kayıtlı Atıf 0 Kaynak: YÖKSİS
Bibliyografik kayıt

Yayın Bilgileri

YÖKSİS
Dergi / kaynak
Journal of Materials Science: Materials in Electronics
Yayın yılı
2025
Makale türü
Özgün Makale
Hakem türü
Hakemli
Yayın dili
İngilizce
Kapsam
Uluslararası
İndeks
SCI
JCR Quartile
Belirtilmemiş
Cilt / sayı
36 / 450
Sayfa aralığı
1 - 12
DOI
Belirtilmemiş
ISSN
0957-4522
Sınıflandırma

Araştırma Alanı ve Anahtar Kelimeler

Araştırma alanı

Fen Bilimleri ve Matematik Temel Alanı / Fizik / Malzeme Fiziği / Optoelektronik / Yarı İletkenler

İlgili kayıtlar

Benzer Yayınlar

OKÜ ABYSAkademik Bilgi Yönetim Sistemi